Das Problem des Testens verstehen und erklären können
Den Testverlauf für Schaltungen und Systeme kennen und anwenden können
Klassische und moderne Testverfahren kennen und anwenden können
Die Algorithmen auf (Schaltkreis-)Graphen anwenden können
Die Komplexität der Verfahren verstehen und erklären können
Lerninhalte
Physikalische Fehlerursachen
Abstraktion von der physikalischen Ebene, Fehlermodelle
Algorithmen zur Berechnung von Signalwahrscheinlichkeiten
Techniken zur Manipulation Boolescher Funktionen
Algorithmen zur Fehlersimulation
Algorithmen zur Testmustergenerierung
Nutzung strukturellen Wissens zur Effizienzsteigerung
Techniken zur Reduktion des Suchraumes, Fehleräquivalenz und -dominanz
Aus den Inhalten ist deutlich zu erkennen, dass theoretisch/methodische Grundlagen einen wichtigen Teil dieser Vorlesung darstellen. Darüber hinaus werden für die vorgestellten Verfahren die Komplexitäten hinsichtlich Laufzeit und Speicher betrachtet.
Prüfungsformen
i. d. R. Bearbeitung von Übungsaufgaben und Fachgespräch oder mündliche Prüfung
Dokumente (Skripte, Programme, Literatur, usw.)
M.L. Bushnell, V.D. Agrawal: Essentials of Electronic Testing – for Digital, Memory & Mixed-Signal VLSI Circuits, New York: Springer, 2000.
N. Jha, S. Gupta: Testing of Digital Systems, Cambridge University Press, 2003.
A. Miczo: Digital Logic Testing and Simulation, 2. Auflage, Wiley, 2003.
H. Wojtkowiak: Test und Testbarkeit digitaler Schaltungen, Teubner, 1988.