Modulnummer

Modulbezeichnung

Titel (englisch)

Pflicht/Wahl

Erklärung

CP

Berechnung des Workloads

Turnus

Dauer

Form

Prüfung

Anforderungen

Lernziele

• Das Problem des Testens verstehen und erklären können
• Den Testverlauf für Schaltungen und Systeme kennen und anwenden können
• Klassische und moderne Testverfahren kennen und anwenden können
• Die Algorithmen auf (Schaltkreis-)Graphen anwenden können
• Die Komplexität der Verfahren verstehen und erklären können

Lerninhalte

1. Physikalische Fehlerursachen

2. Abstraktion von der physikalischen Ebene, Fehlermodelle

3. Algorithmen zur Berechnung von Signalwahrscheinlichkeiten

4. Techniken zur Manipulation Boolescher Funktionen

5. Algorithmen zur Fehlersimulation

6. Algorithmen zur Testmustergenerierung

7. Nutzung strukturellen Wissens zur Effizienzsteigerung

8. Techniken zur Reduktion des Suchraumes, Fehleräquivalenz und -dominanz

Aus den Inhalten ist deutlich zu erkennen, dass theoretisch/methodische Grundlagen einen wichtigen Teil dieser Vorlesung darstellen. Darüber hinaus werden für die vorgestellten Verfahren die Komplexitäten hinsichtlich Laufzeit und Speicher betrachtet.

Quellen

• M.L. Bushnell, V.D. Agrawal: Essentials of Electronic Testing – for Digital, Memory & Mixed-Signal VLSI Circuits, New York: Springer, 2000.

• N. Jha, S. Gupta: Testing of Digital Systems, Cambridge University Press, 2003.

• A. Miczo: Digital Logic Testing and Simulation, 2. Auflage, Wiley, 2003.

• H. Wojtkowiak: Test und Testbarkeit digitaler Schaltungen, Teubner, 1988.

• H.-J. Wunderlich: Hochintegrierte Schaltungen: Prüfgerechter Entwurf und Test, Berlin: Springer, 1991.

Sprache

Bemerkung

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